Вольтметр В7-29

В7-29

Микровольтметр-электрометр универсальный В7-29

Также этот прибор может называться: В729, В7 29, В-729, В 729, b7-29, b729, b7 29.

В7-29 микровольтметр-электрометр универсальный предназначается для измерений постоянных и медленно изменяющихся напряжений и токов любой полярности в цепях с высоким выходным сопротивлением.

Микровольтметры-электрометры В7-29 состоят из регистратора и блока выносного интегрирующего, соединенных кабелем.

Сфера применения: микроэлектроника, техника физического эксперимента, техника ионизирующих излучений, электрохимия, биология (внутриклеточные исследования), масс-спектрометрия.

Технические характеристики В7-29:

Диапазон измерений тока - от 10^-17 А до 10^-13 А.

Диапазон измерений напряжения - от 20 мкВ до 10 В.

Входное сопротивление при измерении напряжения - не менее 10¹⁶ Ом.

Основная погрешность измерения:

- силы тока на диапазоне от 10^-15 А до 10^-13 А - ±(5+0,6(I_k/I_x-1))%;

- силы тока на диапазоне от 10^-16 А до 10^-14 А - ±(10+0,6(I_k/I_x-1))%;

- силы тока на диапазоне от 10^-17 А до 10^-15 А - ±(20+0,6(I_k/I_x-1))%;

- напряжения - ±(1+0,2(U_k/U_x-1))%.

Деления аналогового выхода - 1:1; 3:1; 10:1; 30:1; 100:1.

Напряжение сигнала на нормированном аналоговом выходе микровольтметров - 1 мВ; 3 мВ; 10 мВ; 30 мВ; 100 мВ.

Входная емкость электрометра В7-29 (при измерении напряжения) - не менее 0,5 пФ.

Нестабильность нулевого уровня за 24 ч:

- по напряжению - не более ±250 мВ;

- по току - не более ±1·10^-17 А.

Потребляемая мощность - 45 В·А.

Переключение поддиапазонов - ручное; автоматическое.

Возможность регистрации результатов измерений с помощью самопищущего потенциометра.

Микровольтметр В7-29 выполнен на полупроводниковых приборах и микросхемах.

Отображение измеряемой величины на световом табло.

Габаритные размеры:

- регистра - 495×140×357 мм;

- блока выносного - 198×138×144 мм.

Масса В7-29:

- регистра - не более 3,5 кг;

- блока выносного - не более 13 кг.

Микровольтметр В7-29 может использоваться при измерении токов ионизационных камер, токов утечки полупроводников, в том числе МДП приборов, паразитных токов изоляторов в масс-спектрометрах и хроматографах.